*信州大学基盤研究支援センター機器分析支援部門上田分室にある
分析機器(走査型電子顕微鏡(SEM),ラマン分光光度計が中
心)による測定、メンテナンス、使用法の指導など
*機器分析支援部門上田分室は以下をご参照ください。
https://shinshu−u.ac.jp/
institution/kiban/kiki/ueda/
index.html
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