◎当社で所有している装置を用いての電子部品の分析・評価業務・FIB(集束イオンビーム装置)を用いての試料の加工業務・SEM(走査型電子顕微鏡)を用いての分析業務・TEM(透過型電子顕微鏡)を用いての分析業務・AFM(原子間力顕微鏡)を用いての分析業務・XPS(X線光電子分光装置)を用いての分析業務※上記の何れか一つでも使用経験があるようでしたらその他は当方にて教育致します。
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