≪業務内容≫半導体製造装置のプロセス評価業務・半導体製造装置のプロセス評価、実験、解析及び分析・評価報告書の作成業務等・各種測定機器(膜厚計、SEM、CD—SEM)でのデータ取得・データ解析・資料作成等
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