■半導体向けガラス製品の検査技術(分析・評価)エンジニア・半導体向け薄膜材料の分析・評価・SEM、FIB−SEM、TEM、AFMを用いた局所分析・検査機新規導入に伴うプロセス改善・上記の技術習得および社員への教育
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