当社分析サービスに関する解析、作業の技術サポート業務
具体的作業内容
・電子顕微鏡観察した画像加工、編集及び測長等の編集作業
・半導体試料の割断等の前処理作業
※電子顕微鏡とはSEM(走査型電子顕微鏡)、
TEM(透過型電子顕微鏡)
※将来的には希望によりSEM、TEM、FIB等の分析作業に
従事頂く可能性有
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