FIB(FocusedIonBeam)及びTEM(Tra
nsmissionElectronMicroscope)
を用いて半導体薄膜の生成状況の断面観察が主たる業務。
Labからの依頼を受け、所定の箇所の観察用サンプルの加工、そ
の後電子顕微鏡による観察、写真撮影、報告の流れで業務を行う。
○当社の正社員として、顧客企業で働く勤務形態(無期雇用派遣)
○昇給・賞与あり
○資格取得支援・・・受験料、合格祝い金、通信教育講座
その他、福利厚生充実
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