(1)透過電子顕微鏡(TEM)をつかって、材料の組織、成分、転位などの結晶欠陥を観察および分析を行う対象材料は、主に鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、半導体も対象。使用設備:200kvFE−TEM(2)透過電子顕微鏡での分析に供する試料作製を行う使用設備:ミクロトーム、イオンミリング、電解研磨FIB加工※上記の実験方法の考案、実験の遂行、データ解析、報告書の作成
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