*透過電子顕微鏡(TEM)を使って、材料の組織、成分、転位等の結晶欠陥を観察及び分析を行います。・対象材料:主に鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、半導体・使用設備:200kv、FE−TEM*透過電子顕微鏡での分析に供する試料作製を行います。・使用設備:ミクロトーム、イオンミリング、電解研磨FIB加工*上記の実験方法の考案、実験の遂行、データ解析、報告書の作成(クリーンルーム内作業)
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