半導体ウエーハの電気特性の評価・不良品の原因の究明・上記の不良品を電気的な解析を行い、不具合発生場所を特定・その後、物理的な解析を行い、不具合原因を特定・改善のための新たな製造方法を提案し、効果検証から生産への導入
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